Scanning Electron Microscopy (SEM)

Сканирующие электронные микроскопы — категория высокотехнологичного оборудования, предназначенного для исследования строения и состава широкого класса веществ с помощью сфокусированного электронного пучка. Сканирующая (растровая) электронная микроскопия позволяет анализировать как микрообъекты, так и крупноформатные образцы. Одним из ключевых преимуществ SEM является универсальность: дополнив микроскоп приставкой для спектрального анализа, вы сможете превратить компактный прибор в многофункциональную высокоточную исследовательскую систему.