Scanning Electron Microscopy (SEM)
Сканирующие электронные микроскопы — категория высокотехнологичного оборудования, предназначенного для исследования строения и состава широкого класса веществ с помощью сфокусированного электронного пучка. Сканирующая (растровая) электронная микроскопия позволяет анализировать как микрообъекты, так и крупноформатные образцы. Одним из ключевых преимуществ SEM является универсальность: дополнив микроскоп приставкой для спектрального анализа, вы сможете превратить компактный прибор в многофункциональную высокоточную исследовательскую систему.
(Рус) Quattro
Vendor: FEI
Универсальный высокоразрешающий СЭМ с уникальным режимом естественной среды.
(Рус) Prisma E
Vendor: FEI
The most complete SEM for multi-user laboratories requiring all-round performance and ease-of-use.
(Рус) Apreo™
Vendor: FEI
Microscopes Apreo™ show sub-nanometer resolution and superior analytical performance.
(Рус) Axia ChemiSEM
Vendor: FEI
(Рус)
Доступный и надежный материаловедческий СЭМ с принципиально новым подходом к количественному элементному анализу