Focused Ion Beam (FIB)
(Рус)
Более подробная информация представлена на сайте www.surfaceanalysis.ru
(Рус) Helios Plasma FIB
Vendor: FEI
Helios PFIB является передовой во всем мире платформой DualBeam с высокой пропускной способностью исследования образцов и 3D характеризации материалов.
(Рус) V400ACE
Vendor: FEI
V400ACE™ разработан специально для для модификации схем и анализа отказов. Ионная колонна Tomahawk обеспечивает высокопроизводительную и точную обработку образца, а также дает изображения в высоком разрешении.
(Рус) Vion Plasma FIB
Vendor: FEI
Фокусированный ионный пучок с источником на основе зарядово-связанной плазмы Xe(+). Удаление материала до 20 раз быстрее по сравнению с традиционным Ga FIB.