Оборудование предназначено для исследования образцов методом просвечивающей (TEM) или сканирующей (SEM) электронной микроскопии, а также ионной сканирующей микроскопии. Помимо систем электронной микроскопии, мы предлагаем специализированное программное обеспечение для автоматизации анализа наноструктур и визуализации полученных данных.

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF SIMS)

Каталог оборудования для время-пролетной вторичной ионной масс- спектрометрии. Заказать системы для вторичной ионной масс- спектрометрии в компании ТехноИнфо

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

Каталог оборудования для проведения рентгеновской электронной спектроскопии наноструктур и анализа поверхности образцов. Системы спектроскопии могут использоваться как в научно-исследовательских целях, так и на производстве (например, в составе систем контроля качества выпускаемой продукции).

Low Energy Ion Scattering (LEIS)

Анализ методом рассеяния медленных ионов заключается в бомбардировании образца ионами инертных газов с энергией в несколько кэВ. Оборудование позволяет получить детальную информацию о структуре и элементном составе поверхности исследуемых объектов, а также выявить ее дефекты.

Digital Optical Microscopy (OM)

Компания PicoQuant предлагает различные решения для конфокальной микроскопии с временным разрешением. Это микроскопы с чувствительностью на уровне единичных молекул и пикосекундным временным разрешением, а также возможностью съемки в режиме флуоресцентной микроскопии сверхвысокого разрешения. PicoQuant также предлагают также апгрейды для лазерных сканирующих микроскопов всех основных производителей, которые позволят расширить функционал с использованием методов с временным разрешением.