Scanning Electron Microscopy (SEM)

Our Scanning Electron Microscopes (SEMs) resolve features from the optical regime down to the sub-nanometer length scale.

Transmission Electron Microscopy (TEM)

Каталог систем просвечивающей электронной микроскопии для анализа структуры и состава материала с атомарным разрешением. Заказать просвечивающие электронные микроскопы (TEM) в компании ТехноИнфо

Dual Beam Systems (DualBeam)

Каталог двулучевых электронных и ионных микроскопов для проведения исследований с высоким разрешением. Заказать двулучевые системы FIB/SEM в компании ТехноИнфо.

Focused Ion Beam (FIB)

Каталог систем фокусированного ионного пучка (FIB). Заказать системы фокусированного ионного пучка (FIB)

Oil & Gas and Geology (O&G)

Специализированные микроскопы, созданные для решения задач рудной геологии и геологического сопровождения работ по добыче МПИ.

Application Software (SW)

Автоматизация рутинных и трудоемких аналитических методов электронной микроскопии