Skip

Scanning Electron Microscopy (SEM)

Scanning Electron Microscopes (SEM) are used for inspecting topographies of materials with a magnification range that encompasses that of optical microscopy and extends it to the nanoscale.

Prisma E™

Vendor: FEI

Сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализатором в комплекте. Гибкое решение для широкого спектра исследовательских задач по доступной цене.

Quattro™

Vendor: FEI

Универсальный высокоразрешающий СЭМ с уникальным режимом естественной среды

Apreo™ Scanning Electron Microscope

Vendor: FEI

Microscopes Apreo™ show sub-nanometer resolution and superior analytical performance.