Skip

Surface Analysis

Electron Microscopy (EM)

Оборудование предназначено для исследования образцов методом просвечивающей (TEM) или сканирующей (SEM) электронной микроскопии, а также ионной сканирующей микроскопии. Помимо систем электронной микроскопии, мы предлагаем специализированное программное обеспечение для автоматизации анализа наноструктур и визуализации полученных данных.

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF SIMS)

Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications. TOF-SIMS is an acronym for the combination of the analytical technique SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) with Time-of-Flight mass analysis (TOF).

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

Каталог оборудования для проведения рентгеновской электронной спектроскопии наноструктур и анализа поверхности образцов. Системы спектроскопии могут использоваться как в научно-исследовательских целях, так и на производстве (например, в составе систем контроля качества выпускаемой продукции).