Skip

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF SIMS)


ToF SIMS 5

Vendor: ION-TOF

Specification4" version for sample sizes up to 100 mm in diameter8" version for sample sizes up to 200 mm in diameter12" version for sample sizes up to 300 mm in diameterApplicationMulti-purpose SIMS instrument for industry and research.  The TOF.SIMS 5 provides detailed elemental and molecular information about surface, thin layers, interfaces of the sample, and gives a full three-dimensional analysis. Its unique design guarantees optimum performance in all fields of SIMS applications.

Система TOF.SIMS 5 считается «золотым стандартом» в исследовании полупроводниковых и полимерных материалов методом масс-спектрометрии вторичных ионов. Высокопроизводительный спектрометр последнего поколения, разработанный компанией IONTOF, позволяет выполнять анализ поверхностных и приповерхностных слоев практически всех видов образцов и является одним из самых гибких инструментов для ионной масс-спектрометрии в научных и промышленных лабораториях. Компьютерное управление всеми функциями и параметрами оборудования обеспечивает простоту использования и высокий уровень автоматизации процессов во всех областях применения технологии МСВИ.