Skip

Electron Microscopy (EM)

Сканирующая и просвечивающая, электронная и ионная микроскопия, а также системы фокусированного ионного пучка для исследования поверхности и объема материалов, качественного и количественного элементного анализа методами рентгеновской и электронной спектроскопии

Scanning Electron Microscopy (SEM)

Scanning Electron Microscopes (SEM) are used for inspecting topographies of materials with a magnification range that encompasses that of optical microscopy and extends it to the nanoscale.

Dual Beam Systems

FEI DualBeam™ (FIB/SEM)

Решения для геологии

Специализированные микроскопы, созданные для решения задач рудной геологии и геологического сопровождения работ по добыче МПИ.

Optional software

Автоматизация рутинных и трудоемких аналитических методов электронной микроскопии